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XPS, AES y SIMS
Técnicas espectroscópicas para el estudio de la composición superficial de sólidos
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Técnicas disponibles

Las técnicas de espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS/ESCA) y Auger permiten el análisis cuantitativo de las primeras capas superficiales de muestras sólidas. El uso de equipos XPS provee información acerca de la composición en el espacio en forma de espectros de áreas definidas.

 

El Laboratorio de Química en Superficies ofrece a todos sus clientes ensayos de análisis químico de superficies de materiales sólidos mediante las técnicas de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS), SIMS y AES haciendo uso del equipo ESCAPROBE P.

Las ventajas principales asociadas al uso de estas técnicas para el análisis de superficie son:

·        El ensayo es no destructivo

·        La técnica permite especiar, de manera que se pueden diferenciar los estados de oxidación de los átomos y/o sus entornos de coordinación.

 

Los diferentes ensayos que se realizan son:

·        Registro general e identificación de todos los elementos que componen la superficie de la muestra.

·        Cálculo porcentual de la composición de la superficie de la muestra (20-30 Å de profundidad).

·        Registro del espectro de uno o varios elementos químicos y estimación de sus posibles estados de oxidación.